Система тестирования заряда/времени обратного восстановления (Серия T273X)

Технические характеристики

Система предназначена для измерения заряда обратного восстановления (Qrr) и времени обратного восстановления (Trr) диодов, включая диоды в составе полевых транзисторов (FET) и IGBT. Путем задания прямого тока (IF) и обратного напряжения (VR) тестируемому диоду система управляет скоростью изменения тока (di/dt) и измеряет параметры Trr и Qrr. Система использует полностью цифровое управление условиями тестирования, автоматически записывает формы сигналов напряжения и тока на тестируемом устройстве (DUT) и вычисляет значения времени обратного восстановления (Trr) и заряда обратного восстановления (Qrr) на основе анализа этих波形.

Особенности продукта:

• Подходит для тестирования как кремниевых полупроводников, так и приборов на основе полупроводников третьего поколения (GaN, GaO, SiC и др.).
• Все задаваемые условия тестирования (прямой ток IF, скорость нарастания тока di/dt, обратное напряжение VR, напряжение ограничения Vclamp и т.д.), включая напряжение, длительность импульса, скважность, частоту и количество импульсов, могут быть запрограммированы через меню.
• Возможность проверки на обрыв и короткое замыкание до и после проведения теста Trr/Qrr.

Технические параметры