Система тестирования заряда затвора (Qg) (Серия T371X)

Технические характеристики

Система предназначена для измерения заряда затвора (Qg) полупроводниковых приборов, таких как MOS и IGBT. Заряд затвора является ключевым параметром, определяющим скорость переключения полупроводниковых приборов. Оборудование оснащено полностью цифровым измерительным блоком, способным сохранять все данные тестовых форм сигналов, что удобно для анализа дефектов и исследований. Система соответствует военному стандарту США (MIL-STD-750E) и может использоваться на заводах по тестированию полупроводников, в научно-исследовательских учреждениях и подразделениях контроля качества.

Характеристики продукта:

• Функция полностью автоматического сканирования по напряжению/току: Автоматическое сканирование заряда затвора (Qg) с программируемым шагом и построение графика сканирования.
• Тестирование Qg с высоким разрешением: Поддерживает установку тока затвора (Ig) в диапазоне от 0.1 мА до 10 мА и обеспечивает разрешение по измеряемому заряду Qg до 0.01 нКл.
• Функция отображения форм сигналов в реальном времени: Отображение кривых напряжения и тока в реальном времени или в режиме воспроизведения. Обеспечивает полный последующий анализ дефектных изделий.
• Возможность тестирования параметров Qg, Qgs, Qgd и других.
• Поддержка тестирования качества контакта.
• Поддержка загрузки программ и данных, а также выгрузки данных с использованием сканера штрих-кодов (BarCode Scanner).
• Возможность сохранения тестовых форм сигналов.
• Совместимость с системами T342 и T33X для работы с одного ПК.
• Сканирование Qg с программируемым шагом и построение графика

Технические параметры