Система тестирования теплового сопротивления силовых полупроводниковых приборов (DVds) (Серия T32X)

Технические характеристики

Система предназначена для измерения переходного теплового сопротивления силовых полупроводниковых приборов, таких как транзисторы (TR), полевые транзисторы (FET), IGBT, тиристоры (SCR), диоды (Diode) и светодиоды (LED).

Принцип работы:
В основе системы лежит принцип зависимости падения напряжения на PN-переходе полупроводникового прибора от температуры при заданном токе. Это позволяет тестировать тепловую стабильность силовых полупроводниковых приборов и характеристики теплоотвода их корпусов.

Метод тестирования:
Изменение напряжения на PN-переходе (△Vbe/△Vds/△Vgs/△Vt/△Vf/△Vce) до и после подачи заданной мощности на тестируемый прибор в течение определенного времени служит критерием оценки эффективности теплоотвода. Это изменение сравнивается с заданным нормативным значением для быстрой сортировки. Результаты измерений и графики отображаются на экране компьютера.

Характеристики продукта:

• Функция отображения в реальном времени: Отображение кривых напряжения и тока в реальном времени или в режиме воспроизведения.
• Функция графического отображения кривых: Отображение вольт-амперных характеристик (кривых) в реальном времени или в режиме воспроизведения.
• Полностью цифровая обработка: Цифровая выборка сигналов с возможностью сохранения и повторного отображения.
• Статистический анализ данных: Расширенные функции статистической обработки и анализа данных, включая гибкое построение круговых диаграмм.
• Разрешение и частота дискретизации: Разрешение по току и напряжению до ±15 бит, частота дискретизации до 1 МГц.
• Функция контроля контакта: Мониторинг обрывов и коротких замыканий тестируемого устройства для предотвращения ошибок из-за плохого контакта.
• Тестирование двух кристаллов (Dual Die) (опция).
• Дополнительные тесты:
• Проверка на обрыв и короткое замыкание до и после подачи мощности.
• Тестирование V_TH и I_GSS полевого транзистора (FET) до и после подачи мощности.
• Автоматизированное тестирование и анализ кривой SOA (рабочей области).

Технические параметры