Технические характеристики
Система тестирования лавинной энергии (UIL/EAS), используется для измерения характеристик лавинного пробоя (напряжение/энергия и т.д.) полевых транзисторов (FET), IGBT-транзисторов, диодов (без ограничения) и биполярных приборов (с ограничением). Путем подачи на тестируемое устройство контролируемой индуктивной энергии система проверяет, способно ли устройство нормально поглощать и выдерживать энергию, высвобождаемую индуктивностью. Устройства, прошедшие такие испытания, могут безопасно использоваться в индуктивных нагрузках с обратной электродвижущей силой. Это позволяет эффективно повысить качество продукции.
Данная тестовая система соответствует военному стандарту США MIL-STD750E, может использоваться для аналитических испытаний, а также для производственных испытаний Ft/Cp.
Характеристики продукта
- Функция отображения waveform в реальном времени: возможность отображения кривых напряжения и тока в реальном времени или в режиме записи (включая waveform затвора), что позволяет проводить полный последующий анализ бракованных изделий, особенно подходит для анализа продукции.
- Богатый набор внешних аксессуаров: с помощью аксессуаров поддерживаются такие функции, как лавинное тестирование диодов, лавинное тестирование IGBT с ограничением и лавинное тестирование двухкристальных приборов.
- Поддержка 2 режимов тестирования, множественные критерии оценки: оборудование поддерживает два режима тестирования, ITC и Tesec; поддерживает критерии оценки по напряжению затвора (Vgate), по времени лавинного пробоя (DT) и по реальной лавинной энергии (UIL/Eas), рекомендованные военным стандартом США.
- Поддержка функции RFP Test (тест на повреждение повторяющимися импульсами), что значительно снижает сложность работы для пользователя.
- Поддержка тестирования с индуктивной нагрузкой одиночным импульсом без ограничения (UIS).
- Поддержка тестирования лавинной энергии одиночным импульсом (EAS).
- Поддержка тестирования лавинной энергии повторяющимися импульсами (EAR).
- Наличие возможности точного интегрирования энергии в реальном времени.
- Данная система может быть интегрирована для совместного тестирования со всеми тестовыми системами нашей компании.
Технические параметры
|
Технические параметры |
TAL303A/H |
TAL305A/H |
TAL306A/H |
TAL313A/H |
TAL309A |
|
Диапазон индуктивности |
50 мкГн - 37.80 мГн |
100 мкГн - 100 мГн |
10 мкГн - 160 мГн |
10 мкГн - 50 мГн |
10 мкГн - 160 мГн |
|
Шаг индуктивности |
100 мкГн |
100 мкГн |
10 мкГн |
3 отдельных индуктора с переключением |
10 мкГн |
|
Диапазон напряжения |
2.5 кВ / 3 кВ |
||||
|
Время установки |
25 мс |
6 мс |
6 мс |
||
|
Габариты (ШхВхГ), мм |
500x190x300 |
485x170x175 |
500x170x300 |
485x170x175 |
620x440x230 |
Таблица 2: Параметры измерительных систем (T33X серия)
|
Технические параметры |
T332A/D |
T333A/D |
T336X (Каст.) |
T334X (Каст.) |
T335X (Каст.) |
|
Функция тестирования |
Тест лавинного пробоя без ограничения (UIL/EAS) |
Тест лавинного пробоя с ограничением (EAS) |
|||
|
Объект тестирования |
FET / IGBT / Диод (с измерительной коробкой) |
FET / IGBT / Диод / Биполяр. транз. (PNP/NPN) |
|||
|
Vds / Ids |
100 В / 100 А |
200 В / 200 А |
200 В / 200 А |
300 В / 400 А |
100 В / 100 А |
|
Vg / Rg |
Vg: +/-30 В, Rg: 0-128 Ом (программируемое управление) |
||||
|
Лавинное напряжение (EAS) |
X=A: 10 В - 2500 В; |
||||
|
Частота дискретизации |
10 Мвыб/с |
10 Мвыб/с |
25 Мвыб/с |
10 Мвыб/с |
10 Мвыб/с |
|
Напряжение ограничения |
Нет |
0 - 1600 В |
|||
|
Внешний интерфейс |
TTL: BCD / HEX / Single line / CAN & GPIB |
||||
|
Габариты (ШхВхГ), мм |
350x125x270 |
450x125x270 |
530x430x175 |
570x440x300 |
500x200x320 |
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Система тестирования с индуктивной нагрузкой T33X серии (UIL/EAS) |
По запросу |
JoomShopping Download & Support