Система для тестирования сопротивления затвора (Rg) и ёмкостей (Ciss/Coss/Crss) (Серия T342X)

Технические характеристики

Серия T342X: Система тестирования сопротивления затвора (Rg) и емкостей (Ciss/Crss/Coss)

Система используется для тестирования полупроводниковых компонентов, таких как MOSFET/IGBT. Она подает высокочастотный переменный сигнал на затвор тестируемого устройства, измеряет напряжение и ток, проходящие через тестируемое устройство, и вычисляет емкость и сопротивление. Система соответствует стандарту MIL-STD-750E, обладает полностью цифровым блоком выборки, способна полностью записывать тестовые данные и формы сигналов, что способствует последующему анализу дефектов.

Особенности продукта:

• Функция сканирования межэлектродной емкости: Автоматически генерирует графики сканирования Ciss, Coss, Crss (включая логарифмическое и линейное отображение).
• Соответствует стандарту MIL-STD-750E, включает функции тестирования на фиксированной частоте и сканирования по частоте.
• Функция постоянного смещения: Может подавать постоянное смещение на сток-исток (DS). Стандартная модель: +/-40V, T342M: +/-100V, T342H: до +/-1000V. T342M также может подавать постоянное смещение +/-20V на затвор.
• Может использоваться для анализа продукции, обладает развитыми возможностями тестирования, отображения и обработки корреляционных кривых.
• Компактный размер способствует обработке высокочастотных сигналов и удобству размещения оборудования на производственной линии.
• Совместима со всеми тестовыми системами нашей компании для комбинированного тестирования.
• Может использоваться для массового производственного тестирования FT и CP.
• Возможно тестирование двухкристальных (Dual Die) устройств (опция).

Технические параметры