Система для тестирования температуры на поддоне W-2200B Quad SMD Disc


Производитель: США

0 USD

Технические характеристики

  • Автоматизированная система контроля температуры кварцевых кристаллов на основе программного обеспечения
  • Можно укладывать в штабель до 4 поддонов с дисками
  • Высокоскоростной вентилятор, установленный внутри крышки камеры, обеспечивает быструю выдержку при заданной температуре
  • Дисковая паллетная платформа может быть легко интегрирована в специализированную машину для автоматической загрузки/ выгрузки SMD-устройства
  • Измеряет более 75 различных параметров
  • Параметры и характеристики соответствия кривой
  • проверяются на соответствие легко определяемым пределам контроля качества
  • Кристаллы различной частоты тестируются за один температурный цикл
  • Все данные публикуются в базе данных Microsoft AccessTM и могут быть экспортированы в Microsoft Excel для пользовательского анализа данных
  • Распечатки создаются с помощью Crystal Reports®.

 

Технические параметры

Параметр

250B-2

250C-2

Диапазон частот

15 кГц – 220 МГц

15 кГц – 400 МГц

Корреляция частоты

± 1 ppm (типовое для серии)

± 1 ppm (типовое для серии)

Мощность кристалла

1 нВт – 1000 мкВт (1 МГц – 50 МГц)

1 нВт – 1000 мкВт (1 МГц – 50 МГц)

1 нВт – 500 мкВт (>50 МГц – 200 МГц)

1 нВт – 500 мкВт (>50 МГц – 200 МГц)

Температурная стабильность

± 0.1° C

± 0.1° C

 

  • Коммутационный контроллер S&A 2451
  • Камера для температурных испытаний S&A 4220 (LCO2, LN2 или механическое холодильное охлаждение)
  • Тестовая головка Pi-сети IEC-444
  • Системное программное обеспечение на базе Windows®
  • Требования к компьютеру:Windows XP Pro® (32-разрядная версия) с поддержкой Intelи разъемом PCIe или Windows 10 Pro® (64-разрядная версия) с поддержкой Intel и разъемом PCIe

 

 

Модель

Стоимость, доллары США

Система для тестирования температуры на поддоне W-2200B Quad SMD Disc

 По запросу

Copyright MAXXmarketing GmbH
JoomShopping Download & Support