Система тестирования обратных скачков тока (IRSM) (Серия T23X)

Технические характеристики

Система T23X предназначена для тестирования обратных скачков тока (IRSM) диодов, а также эквивалентных диодов в IGBT и полевых транзисторах (FET).

Обоснование:
В реальных условиях эксплуатации диоды способны выдерживать обратные токи перегрузки, в несколько раз превышающие номинальные значения, без повреждений. Однако превышение допустимых пределов может привести к ухудшению рабочих характеристик компонента или, в худшем случае, к полной потере способности блокировать обратное напряжение. Проверка на стойкость к скачкам тока гарантирует надежность компонентов в процессе их использования.

Преимущества системы:
Данная система сочетает передовые технологии, высокую надежность и простоту эксплуатации. Она подходит как для исследовательского и аналитического тестирования, так и для производственных испытаний FT/CP.

Ключевые особенности:

• Графическое отображение характеристик: Возможность отображения вольт-амперных характеристик (кривых) в реальном времени или в режиме последующего просмотра.
• Полностью цифровая обработка: Оцифровка сигналов по полностью цифровому принципу, с возможностью сохранения и повторного отображения форм сигналов.
• Статистический анализ данных: Расширенные функции статистической обработки и анализа данных, включая построение настраиваемых круговых диаграмм.
• Разрешение и частота дискретизации: Разрешение по току и напряжению достигает ±14 бит, частота дискретизации — до 10 МГц.
• Настраиваемая форма сигнала: Программируемая форма испытательного импульса, определяемая пользователем.
• Контроль контакта: Функция проверки целостности цепи, контролирующая обрывы и короткие замыкания тестируемого устройства для предотвращения ошибок измерений из-за плохого контакта.
• Дополнительные тесты:
1. Измерение сопротивления контактов.
2. Проверка на обрыв и короткое замыкание до и после подачи мощности.

Технические параметры