Системы тестирования прямых скачков тока серия T22X (ISFM)

Технические характеристики

Основное применение: тестирование прямых скачков тока (IFSM) для диодов, динисторов, а также эквивалентных диодов в тиристорах, IGBT и полевых транзисторах (FET).

На практике диоды способны выдерживать перегрузки по току, превышающие номинальные значения в несколько раз, без повреждения. Однако, если допустимые пределы превышены, это может привести к ухудшению рабочих характеристик компонента или, в худшем случае, к полной потере способности блокировать обратное напряжение. Устройства, прошедшие тестирование на скачки тока, демонстрируют значительно повышенную надежность в эксплуатации.

Данная система сочетает передовые технологии, высокую надежность и простоту управления. Она может использоваться как для аналитических испытаний, так и для производственного тестирования FT/CP.

• Функция графического отображения кривых: возможность отображения кривых зависимости напряжения от тока в реальном времени или в режиме воспроизведения.
• Полностью цифровая обработка: реализована на основе принципов цифрового сбора данных, позволяет сохранять и повторно отображать формы сигналов.
• Статистический анализ данных: широкий набор функций статистической обработки и анализа данных, включая гибкое построение круговых диаграмм.
• Разрешение при сборе данных: разрешение по току и напряжению достигает +/-15 бит, частота дискретизации — 1 МГц.
• Настройка формы сигнала: форма импульса программируемая, может быть задана пользователем.
• Функция контроля контакта: отслеживание обрывов и коротких замыканий тестируемого устройства, предотвращение ошибок измерения из-за плохого контакта.
• Дополнительные тесты: проверка на обрыв и короткое замыкание до и после подачи мощности.

Опциональные тесты: измерение теплового сопротивления.

• Тестирование импульсных форм сигнала: помимо стандартных импульсных форм, поддерживаются другие виды, такие как треугольные волны, настраиваемые пользователем.
• Тестирование повторяющимися импульсами: возможность проведения тестов с фиксированным количеством импульсов или до момента выхода устройства из строя.

Технические параметры