Система тестирования кристаллических поддонов W-910A SMD

Технические характеристики

• Автоматическое тестирование SMD-кристаллов, хранящихся на откидных поддонах
• Для быстрого и точного измерения кристаллов используется сетевой анализатор S&A 250B-2 или 250C-2
• Доступна опция S&A 250B-2 Pi Network High Drive
• Можно измерить более 50 различных параметров кристалла, включая DLD и ложные данные
• Неисправности объединяются в 1 из 5 ячеек
• С помощью Crystal Reports® генерируются и печатаются статистические данные и данные о распределении
• Таблицы с двумя поддонами для легкого удаления поддонов во время работы или для консолидации
• Режим консолидации проверяет детали на поддонах с правой стороны и неисправности бункеров, обеспечивая полностью заполненные поддоны с левой стороны

Режим консолидации: 2,75 с

Режим без консолидации: 1,0 с

Диапазон частот 250B-2: от 15 кГц до 220 МГц

Диапазон частот 250C-2: от 15 кГц до 420 МГц

Частотная корреляция: ± 1 ppm в серии