Настольный двумерный рентгеновский дифрактометр AL-Y500

В основном используется для фазового качественного и количественного анализа поликристаллических образцов, включая нестандартный количественный анализ, определение кристалличности, анализ кристаллической структуры, анализ структуры материала, определение размера зерна, уточнение структуры, анализ микроплощадей, анализ напряжений пленки и текстуры. Подходит для различных областей и отраслей промышленности, таких как полезные ископаемые, фармацевтика, химикаты, металлы и сплавы, строительные материалы, наноматериалы, аккумуляторы, образцы пищевых продуктов, биологические образцы.

Технические характеристики

• Детектор фиксируется и фотографируется, что отличается от традиционного сканирующего дифрактометра. Фотографический режим эффективен и быстр, примерно в 5-30 раз быстрее, чем режим сканирования. Подходит для анализа на месте и сбора дифрактографической информации со всех ракурсов одновременно; высокое энергетическое разрешение, эффективное уменьшение фона флуоресценции;
• Высокочувствительный полупроводниковый детектор для подсчета фотонов с формированием рентгеновской поверхности, обеспечивающий подсчет одиночных фотонов, большой динамический диапазон, двойное пороговое значение; точечные и линейные источники света взаимозаменяемы, оптическая геометрия Debaixiele и BB совместимы, плоские и столбчатые образцы совместимы, а детектор совместим с режимами 2D, 1D и OD. Также устойчив к длительному воздействию сильного излучения и имеет длительный срок службы;
• Устройство защиты от рассеянного излучения является более безопасным и надежным. при измерении образца автоматически запрещается открывать дверцу для защиты от излучения, так что оператор может избежать воздействия рассеянного излучения ни при каких обстоятельствах;
• Прибор компактного размера может быть установлен на испытательном стенде, не требуется специальных лабораторных условий, и он прост в использовании, эксплуатации и обслуживании.

Технические параметры