Прибор для анализа толщины покрытия

Технические характеристики

Конфигурация оборудования:

• Рентгеновская трубка: 50 кВ, 1 мА, анод из молибдена/палладия;
• Принцип измерения: Энергодисперсионный рентгеновский анализ (EDX);
• Детектор: SDD-детектор;
• Энергетическое разрешение: 125 ± 5 эВ;
• Диапазон определяемых элементов: от Al (13) до U (92);
• Диаметр фокусного пятна: 15 мкм;
• Язык интерфейса: Корейский / Английский / Китайский;
• Методы анализа: Фундаментальный параметр (FP) / калибровочные кривые / поправки на поглощение и флуоресценцию;
• Размер платформы: 600 × 600 мм (Д × Ш);
• Перемещение образца: 300 мм по осям X, Y (вперед-назад, влево-вправо).

Ключевые преимущества включают: возможность анализа сложных многослойных покрытий (до 5 слоев), включая химические (ENEPIG) и гальванические (Ni, Pd, Rh) покрытия, а также сплавов с одновременным определением состава и толщины. Прибор обеспечивает прецизионные измерения благодаря энергодисперсионному рентгеновскому анализу (EDXRF) с разрешением ≤125 эВ и возможностью работы с микрозонами от 15 мкм (с опциональной капиллярной оптикой 35 мкм).

Основные области применения: контроль качества в электронной промышленности (PCB, чип-компоненты), автомобилестроении (контакты, датчики), а также анализ декоративных и функциональных покрытий. Автоматическая коррекция матричных эффектов и многоязычный интерфейс (корейский/английский/китайский) обеспечивают удобство работы для международных производств.