Стенд для испытания зондов

Категория: Интегральное оборудование.

Технические характеристики

• Используется в малых и средних интегральных схемах, устройствах на поверхностных акустических волнах, светодиодах, устройствах GPP, силовых электронных устройствах, MEMS и других областях.
• Используйте высокопроизводительную CCD-матрицу и карту получения изображений, оснащенную передовым программным обеспечением для обработки изображений.
• Оснащен функцией автоматического сканирования и функцией автоматического поиска начальной точки.
• Дружественный интерфейс управления, динамическое отображение процесса тестирования в режиме реального времени с помощью диаграммы MAP.
• Методы управления отображением, хранением, синхронизацией/задержкой можно гибко настраивать в соответствии с требованиями процесса.
• Он имеет функцию двухъядерного тестирования, тест BIN и внутриконтурный тест, повторное тестирование битых пикселей и другие функции, отвечающие потребностям производственной линии.