Микрофокусная рентгеновская инспекционная система

Система представляет собой высокотехнологичный продукт, объединяющий современные технологии компьютерного программного обеспечения, технологии производства прецизионного оборудования, оптические технологии, электронные технологии, сенсорные технологии, технологии неразрушающего контроля и технологии обработки изображений. Это эффективное средство для исследования продукции, анализа отказов, высоконадежного скрининга, оценки качества, совершенствования процессов и т.д.

Сфера применения

• Подходит для тестирования микросхем BGA, CSP и Flip
• Определение состояния сварки печатных плат
• Различные тесты батареи
• Проверка упаковки микросхемы
• Конденсаторы, резисторы и другие компоненты
• Внутренние дефекты металлических материалов и диэлектриков
• Внутренняя структура и компоненты из легких материалов
• Электронагревательные трубки, жемчуг, прецизионные устройства и т.д.

Технические характеристики

• Виртуальное трехмерное изображение с увеличением и уменьшением масштаба в режиме реального времени
• Оптимизация в оттенках серого, псевдоцветность в реальном времени, гуманизированный дизайн
• Электронная съемка, многокадровое наложение, быстрая и удобная
• Поддержка положительных / отрицательных изображений, края могут быть увеличены
• Точное измерение кривизны и статистика
• Усовершенствованные измерительные инструменты
• Технология измерения шариков припоя BGA
• Можно измерить угол, радиус, площадь паяного соединения и площадь пузырьков; можно рассчитать долю пузырьков; позиционирование координат паяного соединения и статистику
• Динамическое хранилище; несколько методов вывода для хранения, печати, чтения и записи DVD

Технические параметры

• Микрофокусный источник рентгеновского излучения
• Диапазон регулирования напряжения трубки : 20 ~160кВ
• Диапазон регулирования тока трубки : 0,1 мкА ~ 1000 мкА
• Размер фокуса: 1 мкм, 5 мкм, 30 мкм
• Разрешение экрана: 0,5 мкм ~ 2 мкм
• Увеличение: в 20 ~ 3000 раз
• Платформу обнаружения можно перемещать по многоосям X－Y－Z.

Пример обнаружения