Определитель характеристик тонкопленочных покрытий SE-2100

Технические характеристики

Печатная электроника. Оптическая и электрическая метрология. Определение характеристик тонкопленочных покрытий. Контроль толщины слоя.

Характеристики и спецификация системы:

• Способен выполнять быстрые и точные измерения на квадратных образцах размером до 350х450 мм или пластинах размером до 300 мм
• Специальная конструкция патрона для удержания гибкого образца
• Активное гашение вибрации
• Этап отображения с высоким разрешением
• Быстрая автофокусировка Omron
• Вертикальная камера для визуализации образцов и распознавания образов
• Джойстик для легкого перемещения образца
• Соответствие стандартам CE и SEMI

Компоненты и опции:

• Спектроскопический Эллипсометр:
  • Быстрое нанесение непосредственно на фольгу
  • Точка измерения, адаптированная для пластиковой подложки
• Спектроскопический Рефлектометр:
  • Для отражения и пропускания пленок
• Сопротивление бесконтактному листу:
  • Быстрое и точное сопротивление листа вихревым током
  • Для прозрачных электродов и Металла
• Другие методы измерения, такие как комбинационное рассеяние света, время жизни и т. д.

Приложения:

• Дисплей: TFT, OLED на стеклянной или гибкой подложке
• Освещение: Новое применение OLED-освещения. Белый OLED
• Печатная электроника: Любой процесс на гибкой подложке (транзистор, датчики и т.д.)
• Фотовольтаика: Небольшие Тонкопленочные фотоэлектрические панели, панели TCO