Технические характеристики
Система предназначена для измерения времени переключения полупроводниковых приборов, таких как IGBT. Метод двойного импульсного тестирования позволяет удобно оценивать характеристики модулей IGBT и драйверов, получать ключевые параметры в установившихся и переходных режимах, что позволяет оценивать производительность модулей IGBT и драйверов, а также оптимизировать параметры схемы.
Система соответствует стандарту MIL-STD-750E и может использоваться на заводах по тестированию полупроводников, в научно-исследовательских учреждениях и подразделениях контроля качества.
Характеристики продукта:
- Измерение различных динамических параметров IGBT (t<sub>r</sub>, t<sub>d(on)</sub>, E<sub>on</sub>, t<sub>f</sub>, t<sub>d(off)</sub>, E<sub>off</sub> и др.).
- Получение ключевых параметров процессов включения и выключения IGBT для оценки корректности выбора R<sub>gon</sub> и R<sub>goff</sub>.
- Оценка способности платы драйвера IGBT обеспечить достаточный ток управления для включения IGBT путем наблюдения за формой сигнала на затворе.
- Наблюдение за наличием выбросов напряжения в процессах включения и выключения для оценки необходимости использования снабберной цепи в практических применениях.
- Оценка поведения обратного восстановления диода и его запаса по надежности.
- Измерение паразитной индуктивности силовой шины
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Серия T372X: Система тестирования двойным импульсом (SW) |
По запросу |
JoomShopping Download & Support