Система UHV-SPM

Технические характеристики

Сканирующий зондовый микроскоп— это высокоразрешающая микроскопия, позволяющая исследовать морфологию поверхности и физико-химические свойства образцов на нанометровом уровне. Принцип работы основан на взаимодействии зонда с поверхностью образца и регистрации изменений физических величин между ними для создания изображения. Широко применяется в физике, химии, материаловедении, биологии и нанотехнологиях. Например, исследуются морфология поверхности материалов, наноструктуры и расположение атомов; изучаются электрические, магнитные и механические свойства материалов; применяется в нанопроизводстве и контроле для манипуляций и получения изображений с атомарным разрешением, таких как перемещение атомов и модификация поверхности. Благодаря высокому разрешению и разнообразию режимов сканирование зондовым микроскопом стало незаменимым инструментом в исследованиях нанонауки.

Особенности:

• Модульная конструкция;
• Удобная обработка поверхности;
• Надёжная передача образцов;
• Низкое потребление жидкого азота и жидкого гелия.

Опциональные модули:

• 1K охладитель;
• Магнитное поле;
• Индивидуальная система управления;
• Зонд с кварцевым кантилевером (звуковой камертон);
• Оптический канал;
• Расширяемый оптический канал;
• Быстрое охлаждение и измерения при изменении температуры;
• Модульная установка;
• Совместимость с держателями образцов типа flag и 4-электродными держателями;
• Безгелиевый охладитель с гелиевой виброзащитой для эффективной изоляции и снижения эксплуатационных расходов.

Технические параметры