Технические характеристики
- Автоматизированная система контроля температуры кристаллов quartz на основе программного обеспечения
- Кристалл тест-системы температура
- Измеряет более 75 различных параметров
- Параметры и характеристики соответствия кривой проверяются на соответствие легко определяемым пределам контроля качества
- Кристаллы различной частоты могут быть протестированы за один температурный цикл
- Все данные опубликованы в базе данных Microsoft AccessTM и могут быть экспортированы в Microsoft Excel TM для пользовательского анализа данных
- Номер детали кристалла можно использовать для настройки полных параметров измерений, пределов контроля качества, точек контроля температуры и распечатки данных.
- Распечатки создаются с помощью Crystal Reports®.
- Оснащен двумя двухрядными испытательными дисками с увеличенным сроком службы контактов испытательной головки
- Легко загружаемые патентованные гнезда S& A подходят для корпусов HC-45, HC-49, HC 43, HC-49US, HC-18, SMD и трубчатого типа
- Обычно вмещает 508 устройств за один запуск
Технические параметры
|
Параметр |
250B-2 |
250C-2 |
|
Диапазон частот |
15 кГц – 220 МГц |
15 кГц – 400 МГц |
|
Корреляция частоты |
± 1 ppm (типовое для серии) |
± 1 ppm (типовое для серии) |
|
Мощность кристалла |
1 нВт – 1000 мкВт (1 МГц – 50 МГц) |
1 нВт – 1000 мкВт (1 МГц – 50 МГц) |
|
1 нВт – 500 мкВт (>50 МГц – 200 МГц) |
1 нВт – 500 мкВт (>50 МГц – 200 МГц) |
|
|
Температурная стабильность |
± 0.1° C |
± 0.1° C |
- Коммутационный контроллер S&A 2451
- Камера для температурных испытаний S&A 4220 (LCO2, LN2 или механическое холодильное охлаждение)
- Тестовая головка Pi-сети IEC-444
- Системное программное обеспечение на базе Windows®
- Требования к компьютеру:Windows XP Pro® (32-разрядная версия) с поддержкой Intelи разъемом PCIe или Windows 10 Pro® (64-разрядная версия) с поддержкой Intel и разъемом PCIe
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Система для проверки температуры сдвоенных испытательных колёс W-2200B |
По запросу |
JoomShopping Download & Support