Двухкамерная система температурного тестирования W-2200B

Технические характеристики

• Автоматизированная система контроля температуры кристаллов quartz на основе программного обеспечения
• Кристалл тест-системы температура
• Измеряет более 75 различных параметров
• Параметры и характеристики соответствия кривой проверяются на соответствие легко определяемым пределам контроля качества
• Кристаллы различной частоты могут быть протестированы за один температурный цикл
• Все данные опубликованы в базе данных Microsoft AccessTM и могут быть экспортированы в Microsoft Excel TM для пользовательского анализа данных
• Номер детали кристалла можно использовать для настройки полных параметров измерений, пределов контроля качества, точек контроля температуры и распечатки данных.
• Распечатки создаются с использованием Crystal Reports
• Оснащен двумя двухрядными испытательными дисками с увеличенным сроком службы контактов испытательной головки
• Легко загружаемые патентованные гнезда S& A подходят для корпусов HC-45, HC-49, HC 43, HC-49US, HC-18, SMD и трубчатого типа
• Обычно вмещает 1016 устройств за один запуск

Технические параметры

• Два коммутационных контроллера S&A 2451
• Две камеры для температурных испытаний S&A 422 (LCO, LN2 или механическое холодильное охлаждение)
• Две тестовые головки Pi-сети стандарта IEC-444
• Системное программное обеспечение на базе Windows ®
• Принтер (опционально)
• Требования к компьютеру: Минимальная частота Pentium III 500 МГц один полноценный слот PCI с питанием +3,3 В и 5 В, Windows 98®