Микрофокусный промышленный компьютерный томограф

Конструкция структуры системы проста и компактна. Это набор рентгеновской промышленной компьютерной томографии высокого разрешения с гибкой конфигурацией, который может удовлетворить различные потребности в контроле. Он обладает характеристиками высокого разрешения изображения, высокой скорости сканирования, богатых функций, простоты в эксплуатации, стабильной работы, низкой стоимости использования и обслуживания.

Система может быть оснащена источником рентгеновского излучения микронного уровня с разрешением выше 160 кВ или высокоэнергетическим открытым микрофокусным источником рентгеновского излучения с максимальной энергией 300 кВ и минимальным разрешением JIMA 0,5 мкм.

Система идеально подходит для обнаружения однородных металлов, керамики, пластмасс, кернов горных пород, сложных отливок и полупроводников. Он широко используется в аэрокосмической промышленности, производстве автозапчастей, машиностроении, электротехнике, судостроении, оружии, материалах, геологии, археологии и многих других областях.

Технические характеристики

• Открытая микрофокусная лучевая трубка, высокая точность, более длительный срок службы и более стабильная производительность.
• 3D объемная компьютерная томография.
• Прочное мраморное основание обеспечивает устойчивость оборудования.
• Высокоточная подшипниковая технология и система линейных направляющих обеспечивают высокую точность измерений.
• Оборудование имеет компактный внешний вид, простой и вместительный, а также занимает небольшую площадь.
• Автоматически и быстро обнаруживать, анализировать и отображать внутренние дефекты или поры.
• Проанализируйте объем, местоположение, размер и площадь поверхности каждого дефекта.
• Определите дефекты по цвету в соответствии с размером тома.
• Проанализируйте и подсчитайте весь объект или "рентабельность инвестиций”, указанную пользователем, а также проанализируйте размер дефекта, общий процент пор и объем пор.
• Интерфейс данных позволяет экспортировать результаты анализа в программном обеспечении.
• Метод сканирования: конический луч, спираль по желанию.
• Безопасность облучения выше, чем 1 мкЗв/ч.

Пример обнаружения